徠卡Leica DM4 P完全編碼的半自動研究級偏光顯微鏡

適用于地質科學和工業領域
徠卡偏光顯微鏡系列設計用于所有偏光檢測，包括巖石學、礦物學、結構表征、石棉分析、煤質分析（鏡質體反射），以及液晶等領域的檢測。徠卡的偏光顯微鏡是眾多應用領域對于檢測儀器的理想選擇。

由于配備通用的儀器配件，徠卡偏光顯微鏡同時也是工業分析和質量控制領域的理想配備，例如，分析玻璃、塑料和聚合物、紡織品和纖維，以及測試半導體行業的顯示器等。徠卡顯微鏡能始終為用戶提供最精確、最可靠的檢測結果。徠卡偏光顯微鏡經過精心設計，旨在滿足您的應用需求。

Leica DM4 P：全方位服務唾手可得

如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作，可以使用 Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡。

通過編碼組件存儲和調用信息

• 想要更換物鏡時，可通過照明強度控制和對比度管理器調用照明強度和光闌的設置。

• 得益于編碼物鏡轉盤的存在，攝取的圖像始終得到校準。

辨識感興趣的結構

• 25-mm 大視場為您帶來優質的概覽圖像。

• 為您展現所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖，而不是細節圖 — 比如流動結構、變形結構或冷卻過程造成的帶狀排列結構。

徠卡正置偏光顯微鏡助您獲得高質量結果

您需要一些組件來實現偏光研究目標。以下都是重要的組件：

• 無應力光學部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學部件

• LED 照明至關重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫

• 偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉臺幫助您對準樣品和光軸

• 您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務的補償器
  

左圖：使用平行偏振光成像的尼龍纖維。右圖： 使用正交偏振光成像的相同尼龍纖維顯示典型的高階雙折射顏色。使用 DM4 P 顯微鏡、透射光、20 倍 Plan Fluotar 物鏡和偏振光拍攝的圖像。

Leica DM4 P 非常適用于錐光法

• 具有高放大倍率和高數值孔徑的無應力物鏡是該項應用的必備條件。

• 使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的最高要求，從而獲取優質結果。

使用透射光、錐形鏡、63 倍 N Plan 物鏡和偏振光拍攝的 DM4 P 顯微鏡圖像

恰到好處的照明！

徠卡正置偏光顯微鏡采用LED 照明，較鹵素照明優勢更加明顯：

• 它比鹵素照明消耗的能源少，而且無需更換，不會導致機器停機

• LED 使用壽命長達 25,000 小時

• LED 為樣品提供均勻照明，色溫恒定，為您提供真實的樣品形貌

• LED 可快速調整光強，讓您的工作順暢無阻

• LED 無需日光濾鏡，因為它已經提供了 4500 K 恒定光溫

• LED 產生的熱量少，因此無需冷卻風扇

• LED 可幫助您營造安靜無干擾的工作環境，因為沒有冷卻風扇在周圍產生噪音

徠卡正置偏光顯微鏡采用LED照明

兩種照明物盡其用

您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光，也可以一次性配置為使用兩種光源。

• 進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。

• 進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。

• 在地質研究等特殊應用中，兩種光都必不可少。

當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。

使用圓偏振光拍攝的徑向生長的糖晶體。使用 DM4 P 顯微鏡、10 倍 Plan Fluotar 物鏡和偏振光拍攝的圖像。

讓物鏡轉盤來應對！

物鏡轉盤配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率，獲取豐富的樣品信息。

• 使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構

• 如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率

• 切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應

• 而且物鏡轉盤也是編碼的，可為您提供智能支持。

研究光學屬性

錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關研究材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數量、光軸角度和光學特性。

強散色 Brookit (TiO2) 錐光圖
方解石厚片的單軸干涉圖，垂直于光軸
黑云母晶體薄片圓偏光雙軸干涉圖，對角位置。光軸位置清晰可辨